SJ/T11212-1999 SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
标准编号：SJ/T 11212-1999 时间：1999-08-26 大小：KB 浏览次数：214 下载次数：62| 资料名称： | SJ/T11212-1999 SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量 | |
| 标准类别： | 行业标准 | ||
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 文件类型： | .rar | ||
| 整理时间： | 1999-08-26 | ||
| 等 级： |  |
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| 标准状态： | （仅供参考） | ||
| 作废日期： | （仅供参考） | ||
| 实施日期： | 1999-12-01（仅供参考） | ||
| 授权方式： | 免费下载 | ||
| 下载方式： | 直接下载 | ||
| 浏览次数： | 214次 |
| 标准简介： | SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量 电子行业标准(SJ) SJ/T11212-1999 本规范适用于石英晶体件激励电平相关性（DLD）的测量。本标准规定两种试验方法。方法A，以SJ/Z9154.1-87的π型网络为基础，适宜 和于该标覆盖的整个频率范围。方法B，是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体件的测量。 标准压缩包解压密码：www.51zbz.com |
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| 标准编号： | SJ/T 11212-1999 正在载入地址 | |
| 标准名称： | 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量 | |
| 英文名称： | Measurement of quartz crystal unit parameters Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)（仅供参考） | |
| 替代情况： | （仅供参考） | |
| 采标情况： | IEC 444-6-1995 IDT（仅供参考） | |
| 发布部门： | 中华人民共和国信息产业部（仅供参考） | |
| 页 数： | 16页（仅供参考） | |
| 首发日期： | （仅供参考） | |
| 复审日期： | （仅供参考） | |
| 提出单位： | 电子工业部标准化研究所（仅供参考） | |
| 归口单位： | 电子工业部标准化研究所（仅供参考） | |
| 主管部门： | （仅供参考） | |
| 起草单位： | 电子工业部标准化研究所（仅供参考） | |
| 相关标准： | ||
| 下载次数： | 62次 | |
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