SJ/T11222-2000 SJ/T 11222-2000 集成电路卡通用规范 第3部分：测试方法
标准编号：SJ/T 11222-2000 时间：2000-05-30 大小：KB 浏览次数：91 下载次数：26| 资料名称： | SJ/T11222-2000 SJ/T 11222-2000 集成电路卡通用规范 第3部分：测试方法 | |
| 标准类别： | 行业标准 | ||
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 文件类型： | .rar | ||
| 整理时间： | 2000-05-30 | ||
| 等 级： |  |
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| 标准状态： | （仅供参考） | ||
| 作废日期： | （仅供参考） | ||
| 实施日期： | 2000-10-01（仅供参考） | ||
| 授权方式： | 免费下载 | ||
| 下载方式： | 直接下载 | ||
| 浏览次数： | 91次 |
| 标准简介： | SJ/T 11222-2000 集成电路卡通用规范 第3部分：测试方法 电子行业标准(SJ) SJ/T11222-2000 本规范规定了与ISO/IEC 7810给出的定义相适应的识别卡特性用的测试方法。每一测试方法交叉引用一个或多个基础标准，该基本标准可以是ISO/IEC 7810 或一个或多个定义了用于识别卡应用的信息存储技术的补充标准。本规范定义了为一种或多种卡技术通用的测试方法。 标准压缩包解压密码：www.51zbz.com |
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| 标准编号： | SJ/T 11222-2000 正在载入地址 | |
| 标准名称： | 集成电路卡通用规范 第3部分：测试方法 | |
| 英文名称： | General specification for Integrated circuit cards Part 3: Test methods（仅供参考） | |
| 替代情况： | （仅供参考） | |
| 采标情况： | ISO/IEC 10373-1-1996 NEQ ISO/IEC 10373-3-1998 NEQ（仅供参考） | |
| 发布部门： | （仅供参考） | |
| 页 数： | 59页（仅供参考） | |
| 首发日期： | （仅供参考） | |
| 复审日期： | （仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | （仅供参考） | |
| 主管部门： | （仅供参考） | |
| 起草单位： | 中国电子技术标准化研究所（仅供参考） | |
| 相关标准： | ||
| 下载次数： | 26次 | |
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