GB/T5201-1994 GB/T 5201-1994 带电粒子半导体探测器测试方法
标准编号：GB/T 5201-1994 时间：1994-01-02 大小：KB 浏览次数：68 下载次数：6| 资料名称： | GB/T5201-1994 GB/T 5201-1994 带电粒子半导体探测器测试方法 | |
| 标准类别： | 国家标准 | ||
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 文件类型： | .rar | ||
| 整理时间： | 1994-01-02 | ||
| 等 级： |  |
||
| 标准状态： | （仅供参考） | ||
| 作废日期： | （仅供参考） | ||
| 实施日期： | 1995-10-01（仅供参考） | ||
| 授权方式： | 免费下载 | ||
| 下载方式： | 直接下载 | ||
| 浏览次数： | 68次 |
| 标准简介： | GB/T 5201-1994 带电粒子半导体探测器测试方法 国家标准(GB) GB/T5201-1994 本标准规定了带电粒子半导体探测器电特性和核辐射性能的测试方法以及某些特殊环境的试验方法。本标准适用于探测带电粒子的部分耗尽金硅面垒型、锂漂移金硅面垒型和表面钝化离子注入平面硅型等半导体探测器。全耗尽金硅面垒型探测器的某些性能测试也应参照本标准执行。 标准压缩包解压密码：www.51zbz.com |
|
| 标准编号： | GB/T 5201-1994 正在载入地址 | |
| 标准名称： | 带电粒子半导体探测器测试方法 | |
| 英文名称： | Test procedures for semiconductor charged particle detectors（仅供参考） | |
| 替代情况： | GB 5201-1985（仅供参考） | |
| 采标情况： | （仅供参考） | |
| 发布部门： | 国家技术监督局（仅供参考） | |
| 页 数： | 平装16开， 页数：17， 字数：29千字（仅供参考） | |
| 首发日期： | 1985-07-18（仅供参考） | |
| 复审日期： | 2004-10-14（仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | 全国核仪器仪表标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 主管部门： | 国防科学技术工业委员会（仅供参考） | |
| 起草单位： | 北京核仪器厂（仅供参考） | |
| 相关标准： | ||
| 下载次数： | 6次 | |
资料格式：本站提供的标准全部压缩成RAR文件，请使用WinRAR软件解压缩，解压密码为：www.51zbz.com。多数标准资料为PDF文件格式，请下载PDF阅读器进行阅读。
郑重声明：本站收集整理的标准资料均来源于网络，未做任何删减。该资料仅供学习交流，请勿他用。本站不保证标准的完整性，不承担任何技术及版权问题。正规场合使用标准，请通过专门途径购买。未经本站授权，任何网站不得非法盗链及抄袭本站标准资源！
友情提示：为防止未经授权的盗链及采集，下载地址延迟显示，敬请理解。如果发现标准资料不能下载，请联系：admin@51zbz.net，谢谢！