GB/T4326-1984 GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
标准编号：GB/T 4326-1984 时间：1984-04-12 大小：KB 浏览次数：74 下载次数：11| 资料名称： | GB/T4326-1984 GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 | |
| 标准类别： | 国家标准 | ||
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 文件类型： | .rar | ||
| 整理时间： | 1984-04-12 | ||
| 等 级： |  |
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| 标准状态： | 已作废（仅供参考） | ||
| 作废日期： | 2006-11-01（仅供参考） | ||
| 实施日期： | 1985-03-01（仅供参考） | ||
| 授权方式： | 免费下载 | ||
| 下载方式： | 直接下载 | ||
| 浏览次数： | 74次 |
| 标准简介： | GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 国家标准(GB) GB/T4326-1984 本标准适用于在非本征半导体单晶试样中确定载流子霍尔迁移率。为获得霍尔迁移率必须测量电阻率和霍尔系数，因此本标准也分别适用于这些参数的测量。本方法仅在有限的范围内和对锗、硅和砷化镓进行了实验室测量，但该方法也可适用于其他半导体单晶材料。所述的测量技术至少适用于室温电阻率高达104Ωcm的试样。 标准压缩包解压密码：www.51zbz.com |
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| 标准编号： | GB/T 4326-1984 正在载入地址 | |
| 标准名称： | 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 | |
| 英文名称： | Extrinsic semiconductor single crystals; Measurement of Hall mobility and Hall coefficient（仅供参考） | |
| 替代情况： | 被GB/T 4326-2006代替（仅供参考） | |
| 采标情况： | （仅供参考） | |
| 发布部门： | 国家标准局（仅供参考） | |
| 页 数： | 11页（仅供参考） | |
| 首发日期： | （仅供参考） | |
| 复审日期： | 2004-10-14（仅供参考） | |
| 提出单位： | （仅供参考） | |
| 归口单位： | 中国有色金属工业协会（仅供参考） | |
| 主管部门： | 中国有色金属工业协会（仅供参考） | |
| 起草单位： | 有色金属研究总院（仅供参考） | |
| 相关标准： | ||
| 下载次数： | 11次 | |
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