YS/T679-2008 YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法
标准编号：YS/T 679-2008 时间：2008-03-12 大小：KB 浏览次数：111 下载次数：47| 资料名称： | YS/T679-2008 YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法 | |
| 标准类别： | 行业标准 | ||
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 文件类型： | .rar | ||
| 整理时间： | 2008-03-12 | ||
| 等 级： |  |
||
| 标准状态： | （仅供参考） | ||
| 作废日期： | （仅供参考） | ||
| 实施日期： | 2008-09-01（仅供参考） | ||
| 授权方式： | 免费下载 | ||
| 下载方式： | 直接下载 | ||
| 浏览次数： | 111次 |
| 标准简介： | YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法 有色金属行业标准(YS) YS/T679-2008 本标准适用于非本征单晶半导体材料样品或相同导电类型重掺衬底上沉积已知电阻率的同质外延层中的少数载流子扩散长度的测量。要求样品或外延层厚度大于４倍的扩散长度。 标准压缩包解压密码：www.51zbz.com |
|
| 标准编号： | YS/T 679-2008 正在载入地址 | |
| 标准名称： | 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法 | |
| 英文名称： | Test methods for minority carrier diffusion length in extrinsic semiconductors by measurement of steady-steady-state surface photovoltage（仅供参考） | |
| 替代情况： | （仅供参考） | |
| 采标情况： | MOD SEMI MF 391-1106（仅供参考） | |
| 发布部门： | 国家发展和改革委员会（仅供参考） | |
| 页 数： | 16页（仅供参考） | |
| 首发日期： | （仅供参考） | |
| 复审日期： | （仅供参考） | |
| 提出单位： | 全国有色金属标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 归口单位： | 全国有色金属标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 主管部门： | （仅供参考） | |
| 起草单位： | 有研半导体材料股份有限公司（仅供参考） | |
| 相关标准： | 无相关信息 | |
| 下载次数： | 47次 | |
- 上一篇：YS/T 651-2007 二氧化硒
- 下一篇：返回列表
资料格式：本站提供的标准全部压缩成RAR文件，请使用WinRAR软件解压缩，解压密码为：www.51zbz.com。多数标准资料为PDF文件格式，请下载PDF阅读器进行阅读。
郑重声明：本站收集整理的标准资料均来源于网络，未做任何删减。该资料仅供学习交流，请勿他用。本站不保证标准的完整性，不承担任何技术及版权问题。正规场合使用标准，请通过专门途径购买。未经本站授权，任何网站不得非法盗链及抄袭本站标准资源！
友情提示：为防止未经授权的盗链及采集，下载地址延迟显示，敬请理解。如果发现标准资料不能下载，请联系：admin@51zbz.net，谢谢！